2023年10月18-20日，儀器與電子工業(yè)出版社將聯(lián)合主辦第四屆“半導(dǎo)體材料與器件分析檢測技術(shù)與應(yīng)用”主題網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。

iCSMD 2023會(huì)議圍繞光電材料與器件、第三代半導(dǎo)體材料與器件、傳感器與MEMS、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)配套原材料等熱點(diǎn)材料、器件的材料分析、失效分析、可靠性測試、缺陷檢測和量測等熱點(diǎn)分析檢測技術(shù)，為國內(nèi)廣大半導(dǎo)體材料與器件研究、應(yīng)用及檢測的相關(guān)工作者提供一個(gè)突破時(shí)間地域限制的免費(fèi)學(xué)習(xí)平臺(tái)，讓大家足不出戶便能聆聽到相關(guān)專家的精彩報(bào)告。

本次大會(huì)分設(shè)：半導(dǎo)體材料分析技術(shù)新進(jìn)展、可靠性測試和失效分析技術(shù)、可靠性測試和失效分析技術(shù)（賽寶實(shí)驗(yàn)室專場）、缺陷檢測和量測技術(shù)4個(gè)主題專場，誠邀業(yè)界人士報(bào)名參會(huì)。

主辦單位：儀器，電子工業(yè)出版社

參會(huì)方式：本次會(huì)議免費(fèi)參會(huì)，參會(huì)報(bào)名請點(diǎn)擊會(huì)議官網(wǎng)：

“可靠性測試和失效分析技術(shù)（上午場）”專場預(yù)告 （注:最終日程以會(huì)議官網(wǎng)為準(zhǔn)）

嘉賓簡介及報(bào)告摘要（按分享順序）

田鴻昌 中國電氣裝備集團(tuán)科學(xué)技術(shù)研究院有限公司 電力電子器件專項(xiàng)負(fù)責(zé)人

【個(gè)人簡介】

田鴻昌，工學(xué)博士，博士后，高級工程師，主要從事寬禁帶半導(dǎo)體功率器件與應(yīng)用研究。2010年于西安電子科技大學(xué)自動(dòng)化專業(yè)獲學(xué)士學(xué)位，2015年于上海交通大學(xué)電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)獲博士學(xué)位，2017年-2020年作為浙江大學(xué)-中國西電集團(tuán)有限公司聯(lián)合培養(yǎng)博士后從事電氣工程專業(yè)研究?，F(xiàn)任中國電氣裝備集團(tuán)科學(xué)技術(shù)研究院電力電子器件專項(xiàng)負(fù)責(zé)人、中國電氣裝備集團(tuán)有限公司科學(xué)技術(shù)委員會(huì)電力電子專家委員，兼任中國電工技術(shù)學(xué)會(huì)電力電子專委會(huì)委員、中國西電集團(tuán)有限公司高層次科技創(chuàng)新領(lǐng)軍人才、陜西省半導(dǎo)體與集成電路共性技術(shù)研發(fā)平臺(tái)技術(shù)負(fù)責(zé)人、西安電子科技大學(xué)和西安交通大學(xué)研究生校外導(dǎo)師、陜西省電源學(xué)會(huì)常務(wù)理事、陜西省秦創(chuàng)原“科學(xué)家+工程師”團(tuán)隊(duì)首席工程師、陜西省“三秦學(xué)者”創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)骨干成員。獲得授權(quán)發(fā)明專利18項(xiàng)，發(fā)表學(xué)術(shù)論文20余篇，出版專著1部。主持科技部國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題“高可靠性碳化硅MOSFET器件中試生產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù)研究”，主持和參與國家級、省市級、企業(yè)級科研項(xiàng)目10余項(xiàng)。

報(bào)告題目：碳化硅器件的新型電力系統(tǒng)應(yīng)用與可靠性研究

【摘要】報(bào)告首先從“雙碳”目標(biāo)下新型電力系統(tǒng)的發(fā)展需求，聯(lián)系到碳化硅功率半導(dǎo)體器件的特性優(yōu)勢與發(fā)展現(xiàn)狀，而后討論了碳化硅功率在新型電力系統(tǒng)的多方面應(yīng)用情況，最后介紹了對碳化硅器件發(fā)展起著重要作用的可靠性測試研究與相應(yīng)的研究進(jìn)展。

馬英起 中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心 正高級工程師

【個(gè)人簡介】 馬英起，男，中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心正高級工程師，太陽活動(dòng)與空間天氣重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室空間天氣效應(yīng)中心主任，中科院大學(xué)博士生導(dǎo)師，中科院青促會(huì)優(yōu)秀會(huì)員，中國光學(xué)工程學(xué)會(huì)激光技術(shù)應(yīng)用專委會(huì)委員。主要研究方向?yàn)楹教炱骺臻g環(huán)境效應(yīng)研究與應(yīng)用、電路與電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)。在衛(wèi)星器件電路抗輻射研究領(lǐng)域，系統(tǒng)開展輻射效應(yīng)機(jī)理、評估及加固設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)研究，形成的單粒子效應(yīng)脈沖激光關(guān)鍵技術(shù)相關(guān)研究成果及系列抗輻射試驗(yàn)平臺(tái)，支撐了空間科學(xué)先導(dǎo)專項(xiàng)、載人航天空間站、月球與深空探測、核高基、高分六號等國家重大任務(wù)，形成國家級標(biāo)準(zhǔn)2項(xiàng)。近年來發(fā)表論文50余篇、授權(quán)發(fā)明專利10余項(xiàng)，獲省部級科技進(jìn)步一等獎(jiǎng)1項(xiàng)、二等獎(jiǎng)1項(xiàng)。

報(bào)告題目：集成電路激光試驗(yàn)測試技術(shù)研究

【摘要】概述基于激光光電效應(yīng)、光熱效應(yīng)、電光效應(yīng)等機(jī)制，開展航天單粒子效應(yīng)及集成電路缺陷檢測應(yīng)用研究。

江海燕 北京軟件產(chǎn)品檢測檢驗(yàn)中心 集成電路測評實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目經(jīng)理

【個(gè)人簡介】 擅長半導(dǎo)體集成電路失效分析FIB，SEM，EDX，SAT，EMMI，Decap，X-RAY，IV，Probe，OM分析等。報(bào)告：失效半導(dǎo)體器件檢測技術(shù)及案例分享

【摘要】本次報(bào)告聚焦于集成電路失效分析技術(shù)分享，從失效分析的研究方法展開，重點(diǎn)分享失效分析檢測手段應(yīng)用，包含設(shè)備基本功能介紹和案例展示，致力于檢測技術(shù)推廣。

北軟芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室

賈鐵鎖 甬江實(shí)驗(yàn)室微譜（浙江）技術(shù)服務(wù)有限公司 失效分析工程師

【個(gè)人簡介】 賈鐵鎖，畢業(yè)于大連海事大學(xué)材料科學(xué)與工程專業(yè)，對電子元器件失效模式和失效機(jī)理有豐富的理論和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，為產(chǎn)品失效分析提供專業(yè)解決方案。甬江實(shí)驗(yàn)室材料分析與檢測中心失效分析技術(shù)工程師，長期從事半導(dǎo)體器件失效分析工作，對元器件可靠性、失效分析、失效模式、失效機(jī)理等基本概念有科學(xué)認(rèn)知，熟悉電子元器件常見失效模式與失效機(jī)理，建立一套對不同元器件失效分析的思路和方法，通過堅(jiān)實(shí)的理論基礎(chǔ)與科學(xué)的檢測儀器分析相結(jié)合，解決元器件失效分析相關(guān)問題。報(bào)告：半導(dǎo)體元器件材料分析、失效分析技術(shù)與案例解析

【摘要】 報(bào)告如下 1. 半導(dǎo)體元器件門類，16大類49小類，挑選部分元器件做講解。2. 失效分析的相關(guān)介紹：定義和作用、典型失效機(jī)理介紹、失效分析的一般流程、關(guān)鍵站點(diǎn)的介紹等 3. 分析技術(shù)：方法論和技術(shù)介紹，常用失效分析方法，常用技術(shù)分析，諸如電性測試、樣品制備、失效點(diǎn)定位，F(xiàn)IB微區(qū)加工等 4. 失效分析案例解析。

來源：儀器信息網(wǎng)

半導(dǎo)體工程師

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